A method and a device for planar beam radiography and a radiation detector

평판 빔 방사 사진술과 방사 검출기를 위한 방법 및 장치

Abstract

본 발명은, 방사 사진술, 특히 평판 빔 방사 사진술을 위한 방법 및 장치에 관한 것이고, 또한 입사 방사를 검출하기 위한 검출기에 관한 것이다. 장치 및 방법에 있어서, X-선(9)은 X-선 소스(60)으로부터 방출되고, X-선은 평판 빔으로 형성되고 화상처리되는 대상물(62)을 통해 전달되는 바, 대상물(62)을 통해 전달된 X-선은 검출기(64)에서 검출된다. 입사 방사를 검출하는 검출기(64)는, 입사 방사에 의해 해방된 1차 및 2차 이온화 전자의 전자-이온 애벌런치를 야기시키는 전기장을 생성하기 위한 전압이 그 사이에 인가된 전극장치를 포함하는 가스 평행판 애벌런치 챔버이다. 검출기(64)는, 방사가 전기장이 야기되는 제1 및 제2평행판 사이에 한쪽으로 치우쳐서 들어오도록 입사 방사(9)에 대해 배향된다. 상기 전자-이온 애벌런치에 의해 야기된 전자 신호가, 입사 방사에 기본적으로 평행한 방향을 따라 서로 인접하게 배열된 다수의 검출기 전극 엘리먼트를 포함하는 적어도 하나의 검출기 전극장치에서 검출된다. 각각의 검출기 전극 엘리먼트에 대응하는 각 픽셀을 위한 값을 얻기 위해서, 각 검출기 전극 엘리먼트로부터의 펄스는 처리 전자장치에서 처리된다.

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    KR-101475041-B1December 23, 2014엘지이노텍 주식회사라인형 x-레이 이미지 검출 디텍터
    KR-101475042-B1December 31, 2014엘지이노텍 주식회사라인형 x-레이 이미지 검출 디텍터